LEA‑S500 - ЭМТИОН
LEA‑S500

SOL Instruments

Лазерный анализатор элементного состава

Описание LEA‑S500

LEA‑S500 — НОВОЕ РЕШЕНИЕ ДЛЯ ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА

        Лазерный анализатор элементного состава LEA‑S500 производства СОЛ инструментс позволяет определять химические элементы от H до U с диапазоном измерения от 0.01 ppm до 100% за считанные минуты. Система LEA-S500 — это уникальный инструмент, который объединяет инновационные технологии в области лазерной, спектральной, измерительной и цифровой техники, а также программного обеспечения.

 

     LEA-S500 является идеальным прибором для исследований, разработки новых материалов и технологий их обработки, а также контроля качества на всех стадиях производственного процесса. Уникальные возможности анализатора позволяют измерять концентрации химических элементов в стеклах, металлах и сплавах, определять химический состав включений, измерять распределение концентраций элементов по глубине, в пленках и покрытиях, а также выполнять анализ химических загрязнений в строительных материалах.

 

     Анализатор элементного состава LEA-S500 – это современный мощный атомно-эмиссионный спектральный прибор с многоканальной регистрацией спектра, который позволяет определить элементный (оксидный) состав пробы за считанные минуты. Определяемые элементы от H до U, диапазон измерения от 0.01 ррм до 100%.

 

     Масса вещества необходимого для анализа — от 50 нанограмм. Время выполнения многоэлементного анализа с учетом времени пробоподготовки 1-15 минут. Время выполнения 400 анализов по определению однородности материала — около 7 минут. Интуитивно понятное программное обеспечение ATILLA 2 гарантирует полноценное использование прибора с первого дня эксплуатации. Для освоения базовых функций требуется несколько часов и минимум специальных знаний.

 

    Двухимпульсный наносекундный лазерный источник возбуждения спектров, благодаря высокой энергетической, пространственной и временной стабильности, обеспечивает максимальную воспроизводимость результатов анализа и низкие пределы обнаружения химических элементов и соединений. Реализуются как дуговой, так и искровой режимы возбуждения спектров. Оригинальный светосильный безабберационный спектрограф с высоким спектральным разрешением обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения. Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов позволяет достичь рекордно низких пределов обнаружения элементов и линейности концентрационных зависимостей в широком диапазоне, гарантирует точные и достоверные измерения.

Карта концентрации химического
элемента на поверхности образца
Анализ зеркальной поверхности,
площадь 2х2 мм с шагом 100 мкм, 400 точек

 

 

 

Источник возбуждения спeктров

—  двухимпульсный Nd:YAG лазер с модулированной добротностью

 

      В анализаторе элементного состава LEA-S500 источником света для получения атомно-эмиссионного спектра служит плазма вещества анализируемой пробы, образующаяся в результате воздействия на вещество мощных световых импульсов.

Установлено, что воздействие на пробу двух последовательных лазерных импульсов (с задержкой по времени, не превышающей время жизни плазмы) обеспечивает существенный рост интенсивности и стабильности интенсивности спектральных линий по сравнению с одноимпульсным режимом возбуждения. Получаемый эффект снижает предел обнаружения элементов, повышает точность измерений и расширяет аналитические возможности прибора за счет появления дополнительных линий с высокой энергией возбуждения.

Оригинальный спектрограф с фокусным расстоянием 520 мм с вертикальной симметричной светосильной безабберационной схемой обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения для последующей их аналитической обработки.

 

 

Основные преимущества анализатора элементного состава LEA‑S500

 

  • Измерение концентрации химических элементов или их соединений в анализируемой пробе с минимальной пробоподготовкой, без изменения агрегатного состояния проб, и без использования дорогостоящих расходных материалов.
  • Полный анализ химического состава за одно измерение с высокой чувствительностью и прецизионностью измерений в широком диапазоне концентраций.
  • Послойный анализ покрытий, пленок, налетов, коррозий; анализ состава включений, пороков, дефектов; анализ токопроводящих и токонепроводящих материалов; а также анализ проволоки любого диаметра, шариков и цилиндрических деталей.
  • Анализ распределения элементов в пробе с шагом от 30 мкм с построением карт распределения элементов по поверхности и глубине.
  • Универсальность — прибор не требует переналадки или модернизации для решения различных задач, а также удобство и абсолютная безопасность работы и технического обслуживания.

 

Применение лазерного анализатора элементного состава LEA‑S500

 

  • Анализатор элементного состава LEA-S500 применяется для качественного, полуколичественного и количественного анализа элементного (химического) состава сырья, компонентов, добавок, примесей, включений на всех стадиях производства, а также для контроля готовых изделий на заводах, и в рамках научных исследований.

  • Прибор позволяет проводить как общий усредненный многоэлементный анализ состава пробы, так и локальный анализ малого объема и массы. Определяемые элементы от H до U, диапазон измерения от 0.01 ррм до 100 %.
  • Области применения: стекольная промышленность, цементная промышленность, производство керамики, геологическая промышленность, полупроводниковая промышленность, черная и цветная металлургия, строительные материалы, криминалистика, научные исследования в институтах и учебных лабораториях, материаловедение, машиностроение, добыча и переработка сырья, защита окружающей среды, археология, сельское хозяйство (производство кормов, чая и т.п.), медицина, фармакология, а также сертификация.

 

Сертификация прибора LEA‑S500 

 

Анализатор LEA-S500 поверен и внесен в Государственный реестр средств измерений (Госреестр СИ), номер записи 38154-08.

Наименование параметра, единица измерения Номинальное значение
Фокусное расстояние коллиматорного объектива спектрографа, мм 500
Дифракционная решетка, штрихов/мм 1800
Линейная дисперсия на длине волны блеска, нм/мм 1.0
Диапазон регистрируемых длин волн спектров, нм 200-800
Спектральный диапазон, единовременно регистрируемый детектором (цифровой камерой), при определенном заданном положении дифракционной решетки – регион спектра, нм (диапазон уменьшается с увеличением длины волны) 20-30
Спектральное разрешение, нм/пиксель 0,028
Длина волны блеска, нм 270
Диапазон установки диаметра пятна лазерного излучения на поверхности пробы, мм 0,2 – 1,2
Поле зрения системы видеонаблюдения, мм х мм 1,2х1,2
Тип встроенного технологического лазера Полупроводниковый, 1мВт, 650-680 нм.

Функциональные характеристики

Наименование параметра, единица измерения Номинальное значение
Допустимые габаритные размеры анализируемых проб, мм От 12х12х2

до 75х75х40

Диапазон перемещения пробы (установленной на столике), осуществляемой системой позиционирования в двух взаимно перпендикулярных («XY») направлениях, мм ±5
Шаг перемещения пробы, осуществляемой системой позиционирования вдоль осей «XY», мкм 1
Среда рабочей камеры

Среда спектрографа

Воздух/разряженный воздух;

Воздух/аргон

Остаточное давление в рабочей камере (в режиме

откачки воздуха), мм.рт.ст

200
Время откачки воздуха из рабочей камеры, с 30

Тип и характеристики системы возбуждения атомных эмиссионных спектров

Наименование параметра, единица измерения Номинальное значение
Тип системы Лазерный
Тип лазера Твердотельный АИГ:Nd3+частотный, 2-импульсный
Длина волны генерируемого излучения, нм 1064
Средняя энергия импульса излучения, мДж 80-150
Диапазон установки времени задержки между двумя импульсами, мкс От 0 до 20
Частота следования сдвоенных импульсов излучения, Гц 20
Длительность импульса излучения, нс 10-12
Система охлаждения лазера Автономная (вода – воздух)

Общие характеристики

Наименование параметра, единица измерения Номинальное значение
Электропитание 220В, 50Гц
Потребляемая мощность, Вт, не более:

– аппаратный модуль (анализ);

– аппаратный модуль в режиме «StandBy»;

– программно-аппаратный комплекс (персональный компьютер и его периферия)

950

10

500

Время выхода на рабочий режим, мин., не более 15
Время непрерывной работы, ч., не менее 8
Габаритные размеры (без компьютера), мм. 1100х550х750
Масса, кг. 120
Брошюра анализатор LEA-S500
Загрузить

Может быть полезно:

МС 122/МС 124

Спектрофотометры МС 122 / МС 124 – это универсальные […]

Запрос цены Подробнее
МС 311

Преимущества спектрофотометра МС 311:   Двойной монохроматор, обеспечивающий низкий […]

Запрос цены Подробнее

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы