Описание NTEGRA MFM

NTEGRA MFM – АСМ для углубленного изучения магнитных характеристик материалов, в том числе при воздействии магнитного поля.

Магнитная силовая микроскопия (МСМ) основана на регистрации взаимодействия между образцом и магнитным зондом и позволяет получать изображение пространственного распределения магнитных сил по поверхности образца. Применение методов МСМ дает возможность изучать характеристики магнитных носителей, магнитную структуру магнетиков, достигая при этом субмикронного разрешения, магнитные поля токовых шин и т.п.

Особенностью прибора NTEGRA MFM является то, что большая часть деталей измерительной МСМ–головки и сменного основания выполнены из немагнитных материалов, что позволяет избежать изменения положения зонда при изменении магнитного поля.

Для получения магнитного поля в NTEGRA MFM используется постоянный магнит. Изменение величины магнитного поля осуществляется за счет поворота магнита. Такая конструкция с вращающимся постоянным магнитом выгодно отличается от электромагнита и соленоида отсутствием выделения тепла, термодрейфа образца и механической вибрации вследствие прохождения охлаждающей жидкости. Кроме того, такая конструкция имеет малые габариты и вес. В качестве магнита, генерирующего магнитное поле используется сплав NdFeB, а магнитопроводы выполнены из перемендюра. Конструкция генератора магнитного поля разработана таким образом, что в пределах одного держателя образца существуют области с продольным и поперечным магнитным полем. Таким образом, в зависимости от расположения образца на подложке можно проводить измерения либо в продольном, либо в поперечном магнитном поле. Датчик Холла расположен непосредственно под образцом, между магнитопроводами.

Возможно использовать как вертикальные (до ±1100 Гс), так и горизонтальные (до ±2500 Гс) магнитные поля.

NTEGRA MFM  –  позволяет проводить исследования магнитной доменной структуры образцов методами магнитно-силовой микроскопии и комбинации MFM и поляризационных SNOM методик для возможности оптической визуализации доменной структуры со сверхвысоким оптическим разрешением. NTEGRA MFM позволяет получать данные о магнитных характеристиках образца с одной и той же его области как с помощью магнитных кантилеверов так и немагнитных апертурных кантилеверов, исключая возможность взаимного влияния зонда и образца друг на друга во время сканирования. Информация о морфологии образца собирается одновременно с данными о магнитных характеристиках с той же самой области образца.

Применение

• Доменные структуры твердых и мягких магнитных материалов
• Магнитные пленки
• Магнитные микро- и наноструктуры
• Устройства хранения данных
• Устройства спинтроники