Описание EXT SNA

Оптическая измерительная головка нового поколения для АСМ серии NTEGRA. Оптическая измерительная головка позволяет реализовать комбинацию атомно-силовой микроскопию и оптических методик, таких как, например, рамановская спектроскопия. Оптическая головка позволяет сфокусировать лазерное излучение на кантилевер и единовременно получать АСМ и оптическую информацию с одной и той же области образца. Методики TERS (tip enhanced raman scattering) позволяют многократно усилить оптический сигнал и значительно улучшить пространственное разрешение до десятков нм. Новая оптическая головка обладает высокой стабильностью, высокой степенью интеграции АСМ и оптики, позволяет осуществлять гибкую схему засветки/сбора сигнала.

Пример расположения объективов в оптической головке нового поколения для реализации схем засветки/сбора сигнала “сверху”, “сбоку”, “снизу”

Пример реализации одновременного использования АСМ и Раман спектрометра для изучения слоев графена на АСМ NTEGRA: