Архивы PFM - ЭМТИОН https://www.mteon.ru/tag/pfm/ Аналитическое и технологическое оборудование Wed, 15 May 2024 13:32:50 +0000 ru-RU hourly 1 https://wordpress.org/?v=7.0.4 https://www.mteon.ru/wp-content/uploads/2019/08/cropped-favicon-256x256-32x32.png Архивы PFM - ЭМТИОН https://www.mteon.ru/tag/pfm/ 32 32 Микроскопия пьезоотклика (АСМ) https://www.mteon.ru/2019/08/10/mikroskopija-pezootklika-asm/ https://www.mteon.ru/2019/08/10/mikroskopija-pezootklika-asm/#respond Sat, 10 Aug 2019 18:15:23 +0000 https://www.mteon.ru/?p=1151 Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]

Сообщение Микроскопия пьезоотклика (АСМ) появились сначала на ЭМТИОН.

]]> Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии на пьезоэлектрический образец переменного электрического поля и анализе результирующих колебаний его поверхности под зондом [1]. Методика доступна во всех конфигурациях АСМ NTEGRA 

 

 

Пример исследования титаната бария с помощью NTEGRA (метод PFM). Размер изображений 10×10 мкм. Представлены карты амплитуды (a), (с) и фазы (b), (d) вертикальной и латеральной компоненты пьезоотклика соответственно.

 

Ссылки:

  1. M. Alexe, A. Gruverman (Eds.). Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials. Scanning Probe Microscopy Approach. Springer, 2004.

Сообщение Микроскопия пьезоотклика (АСМ) появились сначала на ЭМТИОН.

]]> https://www.mteon.ru/2019/08/10/mikroskopija-pezootklika-asm/feed/ 0