SL100M Линзовые спектрографы - ЭМТИОН
SL100M Линзовые спектрографы

SOL Instruments

SL100M Линзовые спектрографы с компенсацией астигматизма

Описание SL100M Линзовые спектрографы
Линзовые спектрографы с компенсацией астигматизма серии SL100M имеют фокусное расстояние 100 мм и относительное отверстие 1/3,3. Спектрографы построены по горизонтально-симметричной схеме с двумя объективами. Перестройка по длинам волн осуществляется вручную, с помощью микрометрического винта. Исправленный астигматизм и дисторсия позволяют использовать эти приборы в многоканальной спектроскопии. В стандартной комплектации спектрографы SL100M поставляются с адаптером для подключения камеры с фланцем «C-mount». По согласованию с потребителем возможна поставка с другими фланцами для подключения камер.

 

 

Отличительные особенности

 

  • Высокая светосила
  • Плоское фокальное поле
  • Входная щель с ручной регулировкой ширины
  • Малые размеры и вес

 

Область применения

 

  • Многоканальная спектроскопия
  • Люминесцентные измерения

Оптическая система

 

Оптическая схема: горизонтально-симметричная, с компенсацией астигматизма
Относительное отверстие: 1/3.3
Фокусное расстояние: 99.3 мм
Объективы и камера: Ахроматизованные, с исправленной дисторсией
Фокальная плоскость: 28 х 8 мм (20 х 8 мм при использовнии с C-mount адаптером)
Размер дифракционной решетки: 40 x 40 x 6 мм
Рассеянный свет:
(20 нм от линии лазера 632.8 нм)
9 х 10-4

Качество изображения:

 

Горизонтальное увеличение: 1.2
Вертикальное увеличение: 1
Вертикальное пространственное разрешение: 50 мкм

Механизм развертки по спектру

 

Управление: Ручное, с помощью микрометрического винта
Механизм: Синусный
Цена деления микрометрического винта: 1 нм

Оптические характеристики

 

Модель: SL100M SL100M-UV
Дифракционная решетка: 400 штр/мм 500 нм 400 штр/мм 300 нм
Диапазон длин волн, ограниченный конструктивными параметрами: 360 — 1100 нм 200 — 1100 нм
Диапазон длин волн, в котором эффективность дифракционной решетки >40%: 265 — 1000 нм 200 — 600 нм
Обратная линейная дисперсия
(на длине волны блеска):
18.38 нм/мм 19.21 нм/мм
Спектральное разрешение: <0.35 нм <0.37 нм
Воспроизводимость: ± 0.1 нм ± 0.1 нм
Точность установки длины волны: ± 1 нм ± 1 нм

Спектральные щели

 

Управление: Ручное, с помощью микрометрического винта
Ширина раскрытия щели: плавно регулируемая от 0 до 2.0 мм
Параллельность ножей: ± 1 мкм
Точность (при ширине щели 1 мм): ± 10 мкм
Воспроизводимость: ± 1.5 мкм
Цена деления микровинта: 2 мкм

Габаритные размеры

 

Габаритные размеры (Д х Ш х В): 190 х 175 х 160
Вес: 2 кг

Габаритные размеры:

 

Габаритные размеры SL100

 

Может быть полезно:

Confotec NR500 — 3D сканирующий лазерный Рамановский микроскоп

Преимущества   Одновременный / многофункциональный анализ: Рамановские измерения люминесцентные […]

Запрос цены Подробнее
SNOM с оптоволоконной головкой

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (SNOM) позволяет изучать оптические свойства […]

Запрос цены Подробнее
SPECTRA Full

SPECTRA – это уникальная интеграция атомно-силового микроскопа с конфокальной […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]


Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]


Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы