Проводящие кантилеверы - ЭМТИОН
Проводящие кантилеверы

TipsNano

Стандартные АСМ кантилеверы для работы в проводящих методиках.

Описание Проводящие кантилеверы

 

Высокоточные АСМ зонды серии HA_NC/W2C с проводящим покрытием W2C+ предназначены для работы в проводящих методиках (SKM, SCM, SRIM, EFM). Сверхтвёрдое покрытие обеспечивает длительную работу в проводящих методиках при высоких прикладываемых напряжениях и больших значениях токов, протекающих в точке контакта «игла-образец». Специальные легирующие добавки защищают кантилеверы от окисления, что увеличивает срок жизни кантилеверов и позволяет работать с ними при высоких значениях влажности.

Высокоточные композитные кантилеверы серии «ЭТАЛОН» объединяют в себе основные характеристики, позволяющие получать АСМ изображения высокого качества:

 — острую иглу (10нм)

 — высокоточные значения резонансной частоты с типичным разбросом ±10%

 — вертикальные стенки чипа для удобства работы

 — повышенное отражение обратной стороны балки.

HA_NC/W2C

Каждый чип имеет 2 балки. Средние значения резонансных частот 235 кГц и 140 кГц, средние значения силовых констант 12 Н/м и 3.5 Н/м. Кантилеверы имеют Au отражающие покрытие для увеличения сигнала лазера. Зонды упакованы в коробки по 15 штук и по 50 штук.

 

HA_C/W2C

Каждый чип имеет 2 балки. Средние значения резонансных частот 37 кГц и 19 кГц, средние значения силовых констант 0.65 Н/м и 0.26 Н/м.
Кантилеверы имеют Au отражающие покрытие для увеличения сигнала лазера. Доступны также кантилеверы без покрытия и кантилеверы с проводящим покрытием. Зонды упакованы в коробки по 15 штук и по 50 штук.

 

HA_C/W2C

Каждый чип имеет 2 балки. Средние значения резонансных частот 37 кГц и 19 кГц, средние значения силовых констант 0.65 Н/м и 0.26 Н/м.
Кантилеверы имеют Au отражающие покрытие для увеличения сигнала лазера. Доступны также кантилеверы без покрытия и кантилеверы с проводящим покрытием. Зонды упакованы в коробки по 15 штук и по 50 штук.

 

HA_HR/W2C

Каждый чип имеет 2 балки. Средние значения резонансных частот 380 кГц и 230 кГц, средние значения силовых констант 34 Н/м и 17 Н/м. Кантилеверы имеют Au отражающие покрытие для увеличения сигнала лазера. Зонды упакованы в коробки по 15 штук и по 50 штук.

 

HA_HR/Pt

Каждый чип имеет 2 балки. Средние значения резонансных частот 380 кГц и 230 кГц, средние значения силовых констант 34 Н/м и 17 Н/м. Кантилеверы имеют Au отражающие покрытие для увеличения сигнала лазера. Зонды упакованы в коробки по 15 штук и по 50 штук.

 

HA_CNC/Pt

Каждый чип имеет 2 балки. Средние значения резонансных частот 66 кГц и 46 кГц, средние значения силовых констант 1.5 Н/м и 1.0 Н/м. Кантилеверы имеют Au отражающие покрытие для увеличения сигнала лазера. Зонды упакованы в коробки по 15 штук и по 50 штук.

 

HA_NC/Pt

Каждый чип имеет 2 балки. Средние значения резонансных частот 235 кГц и 140 кГц, средние значения силовых констант 12 Н/м и 3.5 Н/м. Кантилеверы имеют Au отражающие покрытие для увеличения сигнала лазера. Зонды упакованы в коробки по 15 штук и по 50 штук.

.

 

 

Серия кантилевера Длина балки, L±10мкм Ширина балки, W±7.5мкм Толщина балки, T±1.0мкм Резонансная частота, кГц Силовая константа, Н/м
min typical max min typical max

HA_NC/W2C

A 94 34 1.85 210 235 260 9 12
B 124 34 1.85 125 140 155 2.5 3.5

HA_C/W2C

A 264 34 1.85 33 37 42 0.5 0.65
B 364 34 1.85 16 19 22 0.2 0.26

HA_HR/W2C

A 93 34 3.0 342 380 418 27 34
B 123 34 3.0 207 230 253 13 17

HA_HR/Pt

A 93 34 3.0 342 380 418 27 34
B 123 34 3.0 207 230 253 13 17

HA_CNC/Pt

A 184 34 1.85 59 66 75 1.2 1.5
B 224 34 1.85 41 46 51 0.8 1.0

HA_NC/Pt

A 94 34 1.85 210 235 260 9 12
B 124 34 1.85 125 140 155 2.5 3.5

Может быть полезно:

Магнитные кантилеверы

Преимущества магнитных зондов TipsNano: 1. Стабильность и устойчивость свойств. […]

Запрос цены Подробнее
Полуконтактные кантилеверы

NSG01 Высокоразрешающие кремниевые АСМ кантилеверы серии NSG01 предназначены для […]

Запрос цены Подробнее
Контактные кантилеверы

CSG01 Высокоразрешающие кремниевые АСМ кантилеверы серии CSG01 предназначены для […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]


Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]


Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы