Магнитные кантилеверы - ЭМТИОН
Магнитные кантилеверы

TipsNano

Магнитные кантилеверы для МСМ

Описание Магнитные кантилеверы

Преимущества магнитных зондов TipsNano:

1. Стабильность и устойчивость свойств.

2. Пространственное разрешение до 20-30 нм.

3. Многообразие применений.

4. Гарантированный срок службы — 1 год.

 

MFM01

Магнитные кантилеверы серий MFM10 and MFM01  созданы специально для магнитно-силовых измерений с высоким пространственным разрешением. Благодаря оптимальной толщине покрытия данные зонды подходят для различных магнитных измерений, в том числе для начальных исследований новых образцов.
Специальное защитное покрытие помогает избежать окисления и значительно увеличивает срок жизни кантилеверов. При этом радиус закругления кантилевера остается довольно маленькими для получения изображений с высоким пространственным разрешением порядка 20-30нм.

 

MFM01

Низкомоментные кантилеверы серии MFM_LM обладают меньшей толщиной магнитного покрытия, что уменьшает их влияние на исследуемые объекты. Данные зонды хорошо подходят для исследования образцов с низкой коэрцитивностью – таких, как гранатовые пленки, низкокоэрцитивные ферромагнитные частицы с размерами порядка 100нм и менее. У кантилеверов этой серии толщина магнитного покрытия меньше, чем у стандартных МСМ зондов. Специальное защитное покрытие помогает избежать окисления и значительно увеличивает срок жизни кантилеверов. Типичное значение резонансной частоты 70кГц (гарантированно 47-90кГц), типичная силовая константа 3Н/м (гарантированно 1-5Н/м). Кантилеверы имеют Al покрытие с отражающей стороны для увеличения сигнала лазера. Зонды упакованы в коробки по 15 штук и по 50 штук. Указанные цены включают в себя скидку на объём.

 

 

 

 

Серия кантилевера Длина балки, L±10мкм Ширина балки, W±7.5мкм Толщина балки, T±1.0мкм Резонансная частота, кГц Силовая константа, Н/м
min typical max min typical max

MFM01

225 28 3 47 70 90 1 3 5

MFM_LM

225 28 3 47 70 90 1 3 5

Может быть полезно:

Проводящие кантилеверы

  Высокоточные АСМ зонды серии HA_NC/W2C с проводящим покрытием […]

Запрос цены Подробнее
Полуконтактные кантилеверы

NSG01 Высокоразрешающие кремниевые АСМ кантилеверы серии NSG01 предназначены для […]

Запрос цены Подробнее
Контактные кантилеверы

CSG01 Высокоразрешающие кремниевые АСМ кантилеверы серии CSG01 предназначены для […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]


Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]


Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы