Confotec MR200 конфокальный 3D сканирующий Рамановский (КР) микроскоп

SOL Instruments

Высокоточный конфокальный 3D сканирующий Рамановский (КР) микроскоп для неразрушающего анализа веществ и материалов, изучения их химических и физических свойств.

Описание Confotec MR200 конфокальный 3D сканирующий Рамановский (КР) микроскоп

Высокоточный конфокальный 3D сканирующий Рамановский (КР) микроскоп для неразрушающего анализа веществ и материалов, изучения их химических и физических свойств. В нем объединены ультрасовременные достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения.

Наличие Эшелле решетки позволяет использовать прибор для задач, требующих высокого спектрального разрешения, например для изучения стресса в полупроводниках.

Высокочувствительный малошумящий детектор с низкотемпературным охлаждением, а также спектрометр с высоким пропусканием позволяют выполнять измерения действительно быстро и с высокой достоверностью (высоким отношением сигнал/шум).

Confotec® MR200 бескомпромисно сочетает в себе:

  • Высочайшую чувствительность
  • Полностью автоматизированное управление всеми узлами и устройствами прибора
  • Высокое спектральное разрешение, обычно свойственное большим и дорогим приборам
  • Максимальное пространственное разрешение, благодаря использованию вариотелескопа, меняющего диаметр лазерных пучков в зависимости от параметров объектива микроскопа
  • Долговременную надежность и стабильность в работе, без необходимости подстройки прибора
  • Возможность оснащения системой автофокуса для полной автоматизации измерений

Дополнительные преимущества:

Прибор построен на базе прямого микроскопа исследовательского класса модели NikonTM Ni, что позволяет дополнительно оснастить прибор стандартными модулями для реализации режимов работы в проходящем свете, поляризационного и фазового контраста, DIC, приставкой для эпи-флуоресценции и др.

Благодаря единой моноблочной конструкции Confotec MR200 не требует наличия оптического стола, а также легко может быть транспортирован без необходимости последующей наладки.

Общие характеристики системы

Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов.
Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в диапазоне:
532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1
633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1
785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1
Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.**
Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки.
Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением.
Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм
Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40°С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60°С
Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм)
Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм
Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***
Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами
Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора
Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца.
Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов

**  Опционально микроскоп может быть оснащен окулярами, осветителем для работы в проходящем свете, эпифлуоресцентной приставкой, а также защитным кожухом для обеспечения лазерной безопасности требованиям Класс-1.
**   Опционально спектрометр может оснащаться оптикой для работы с УФ лазерами
***  Возможна установка Notch фильтров для работы в Стоксовой и анти-Стоксовой области одновременно
**** Установка лазеров с другой длиной волн, в том числе УФ, возможна опционально

Может быть полезно:

Описание методик

Полуконтактный АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Силовой Микроскопии впервые было […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Многопроходные Методики

Многопроходные методики АСМ обычно используются в задачах, где необходимо […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы