LiteScope - ЭМТИОН
LiteScope

NenoVision

Сканирующий зондовый микроскоп для установки в электронный микроскоп. Возможность проведения корреляционной атомно-силовой и электронной микроскопии.

Описание LiteScope

LiteScope это уникальный сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ). Он разработан для легкой интеграции в различные сканирующие электронные микроскопы (СЭМ). Комбинация методов АСМ и СЭМ позволяет использовать преимущества обоих. Корреляционная микроскопия позволяет по-новому взглянуть на изображение наномира. АСМ LiteScope™ предлагает революционный подход к этому вопросу. С LiteScope™ сканирующая зондовая микроскопия (АСМ) и сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) могут быть объединены без ограничения возможностей визуализации любой системы. Вместо этого используются оба набора информации.

Корреляционная зондовая и электронная микроскопия (CPEM) сочетает в себе методы АСМ и СЭМ. КЗЭМ позволяет получать изображения одной и той же области как АСМ, так и СЭМ одновременно и в одной системе координат. Комбинация методов построения изображений с помощью АСМ и СЭМ позволяет получать больше информации о анализируемой области, выявляя возможные несоответствия на обоих изображениях.

 

Принцип работы

Образец прикрепляют к пьезоэлектрическому сканеру. И точка фокусировки электронного луча, и зонд АСМ остаются неподвижными во время получения изображений. Интересующая область сканируется с помощью пьезоэлектрического сканера, а сигналы от детектора SEM и зонда AFM регистрируются одновременно, так что измерения находится в одной системе координат. Между кончиком зонда АСМ и сфокусированным электронным пучком существует постоянное смещение иглы / пятна в диапазоне сотен
нанометров. Если такое смещение кончика зонда / пятна вычесть, можно получить изображения СЭМ и АСМ с идеальным соответствием и превосходной корреляцией.

 

Схема корреляционной зондовой и электронной микроскопии

Преимущества метода КЗЭМ
  • КЗЭМ обеспечивает многомерную корреляционную визуализацию — изображения сканирующего электронного микроскопа расширяются в 3D за счет АСМ.
  • Используя КЗЭМ, можно быстро и точно различать контраст топографии и контраст материала на изображениях СЭМ.
  • КЗЭМ соответствующим образом коррелирует два или более сигналов СЭМ (такие как SE, BSE, EBIC и др.) с измеренной топографией.
  • КЗЭМ позволяет измерять АСМ и СЭМ одновременно, в одних и тех же условиях, с одинаковой скоростью измерения и т. д.
  • Комбинированная система сканирования АСМ и СЭМ обеспечивает точную корреляцию изображения, устранение дрейфа и других неточностей.

 

 

Основные параметры

Вес 650 г
Область исследования образца 22 мм х 11 мм х 8 мм
Система подвода Ортогональное позиционирование
Калиброванные, напряженные подшипники для линейного перемещения
Самоблокирующийся
Минимальный шаг 50нм
Скорость >2 мм/c
Диапазон перемещения — X — 24мм, Y — 12 мм, Z — 12 мм без обратной связи и 10мм с
обратной связью
Система сканирования На основе многослойного низковольтного пьезоэлектрического преобразователя
Система гибких направляющих с мощными твердотельными пьезопакетами
Возможность работы с системой обратной связи и без неё
XYZ перемещение без обратной связи — 100мкм, разрешение 0.2нм; с системой обратной связи 80мкм, разрешение 2нм
Быстрая и легкая замена зонда Четыре стандартных держателей зонда
Возможность использовать другие держатели

Система управления

Измерительные методики Контактная и полу-контактная микроскопия, C-AFM, EFM, STM, MFM — по запросу
Зонды Зонд Akiyama, датчики на основе камертона, пьезорезистивные датчики и д
Выбираемый пользователем
диапазон усиления пьезоусилителя
(разрешение)
100мкм (<2нм)
50мкм (<1нм)
10мкм (<0.2нм)
5мкм (<0.2нм)
  • 5 × 16-битных дополнительных входов для одновременного измерения пользовательских сигналов (± 10 В)
  • Входные каналы могут использоваться в обратной связи
  • Выход сигнала датчика / монитор
  • Возможность подачи внешних сигналов на зонд
  • Все необходимые подключения для использования внешней ФАПЧ (PLL)
  • Ethernet-соединение с управляющим ПК
  • 110 В переменного тока / 230 В переменного тока, 200 Вт

 

Управляющая программа

  • Веб-интерфейс пользователя
  • Легкость у вправлении для новых пользователей, гибкость для экспертов
  • Удаленный доступ к пользовательским данным, загрузка данных с управляющего ПК на локальную рабочую станцию
  • Удаленное управление экспериментом через, например. планшет, смартфон
  • Интегрированная постобработка данных, анализ, экспорт и др.
  • У каждого пользователя есть учетная запись которая настраиваются индивидуально -расположение, параметры, сложность и др.

 

Внешняя среда

  • Температура +150 C до +250C
  • Давление 10-5 Па до 105 Па
  • Эксплуатировать в сухой среде
Брошюра LiteScope
Загрузить

Может быть полезно:

TESCAN VEGA

Полностью управляемый с компьютера сканирующий электронный микроскоп с классическим […]

Запрос цены Подробнее
NTEGRA AURA

NTEGRA Aura  –  это Сканирующий Зондовый Микроскоп для работы в […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Корреляционная Зондовая и Электронная Микроскопия — КЗЭМ

  Корреляционная микроскопия предоставляет преимущества визуализации одного и того […]


Рамановская спектроскопия

В Рамановоской спектроскопии (Спектроскопии Комбинационного рассеяния) образец облучается монохроматическим […]


Атомно-силовая Акустическая Микроскопия

Основная идея Атомно-силовой Акустической Микроскопии (АСАМ) заключается в возбуждении […]


Посмотреть все методики

Научные результаты на обору­довании

Идентификация драгоценных камней с помощью спектроскопии комбинационного рассеяния света

В настоящее время на ювелирном рынке существует большое разнообразие […]


Управление разделением фаз в тонких пленках диоксида ванадия с помощью структурирования подложек

Сильные электронно-решетчатые взаимодействия в коррелированных электронных системах предоставляют уникальные […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Посмотреть все статьи

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы