TESCAN VEGA - ЭМТИОН
TESCAN VEGA

TESCAN

TESCAN VEGA - Полностью управляемый с компьютера сканирующий электронный микроскоп с классическим вольфрамовым термокатодом

Описание TESCAN VEGA

Полностью управляемый с компьютера сканирующий электронный микроскоп с классическим вольфрамовым термокатодом и предметной камерой SB (максимальная высота образца 36 мм), предназначенный как для исследований в высоком вакууме, так и для низковакуумных операций (комплектация UniVac). Отличительными особенностями данного микроскопа являются: прекрасные оптические свойства, возможность захвата изображения и вывод немерцающего цифрового изображения высокого разрешения, современный дружественный интерфейс программного обеспечения для управления микроскопом, работающего в среде WindowsTM, а также большой выбор форматов для сохранения изображений, система архивирования данных, обработки и удобного просмотра изображений, проведение геометрических измерений на полученной картинке, автоматическая система настройки параметров микроскопа и множество других автоматизированных процедур.

 

Аналитический потенциал

 

Камера микроскопа с маркировкой SB оснащена:

  • столиком образцов, моторизованным по 5-и осям
  • детекторами сцинтилляционного типа на основе высокочувствительных YAG-кристаллов
  • 23-мя интерфейсными портами геометрически оптимизированных для работы с детекторами EDX, WDX, EBSD
  • имеется широкий выбор доступных различных детекторов и аксессуаров камеры

Необходимый для работы уровень вакуума достигается за несколько минут с помощью комбинации высокопроизводительных турбомолекулярного и форвакуумного насосов. Электронный микроскоп версии SBU (комплектация UniVac) позволяет исследовать непроводящие образцы в режиме с переменным давлением в камере. Кроме того, существует возможность измерения истинного профиля, площади или объема объектов на образце с помощью программного модуля 3D Метрология (технология 3D Beam Technology).

 

 

 

Конфигурации VEGA3 SB

 

VEGA3 SBH

 

Компактный сканирующий электронный микроскоп в высоковакуумном исполнении с моторизованным по 3-м осям столиком образцов. Предназначен для исследований образцов небольшого размера (высотой до 36 мм), проводящих электрический ток, либо с нанесенным на них токопроводящим покрытием (например слоем углерода).

 

VEGA3 SBU

 

Сохраняя все преимущества сканирующего электронного микроскопа с высоким уровнем вакуума, данная модель также позволяет работать в режиме переменного вакуума в камере образцов (комплектация UniVac). Таким образом, появляется техническая возможность исследовать не проводящие или биологические водосодержащие образцы в их естественном состоянии без напыления токопроводящего слоя.

 

VEGA3 SB — EasyProbe

 

Сканирующий электронный микроскоп VEGA3 EasyProbe — это компактный и легкий в управлении инструмент с интегрированным рентгеновским энергодисперсионным микроанализатором определенной марки. Микроскоп EasyProbe доступен как в высоковакуумном исполнении, так и в варианте с переменным вакуумом (в комплектации UniVac). Высочайшее качество изображения, значительный уровень автоматизации микроскопа, простота в использовании и быстрота в получении результатов качественного элементного анализа — главные достоинства этого прибора.

Электронная оптика

Источник электронов: Вольфрамовый нагреваемый термо-катод
Разрешение:
в режиме высокого вакуума (SE): 3,0 нм при 30 кВ
8,0 нм при 3 кВ
в режимах переменного и низкого вакуума (BSE, LVSTD): 3,5 нм при 30 кВ
Увеличение: от 3 × до 1 000 000 ×
(увеличение указано для изображения шириной 5 дюймов, непрерывное изменение увеличения во всем диапазоне)
Максимальное поле обзора: 7,7 мм при WDаналитич. = 10 мм
24 мм при WD = 30 мм
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 кВ
Ток пучка электронов: от 1 пА (10-12 А) до 2 мкА (2•10-6 А)
Рабочие режимы электронной оптики:
Разрешение: Высокое разрешение
Глубина: Большая глубина резкости
Поле: Большое поле зрения без искажений
Широкое поле: Максимальная площадь обзора образцов в камере при минимальных увеличениях без искажений (увеличение известно)
Каналирование: Картины каналирования электронов (ECP) для оценки характеристик кристаллической ориентации образца

В режиме низкого вакуума доступны только режимы «Разрешение» и «Глубина»

Система сканирования

Скорость сканирования: От 20 нс до 10 мс на пиксель, регулируется ступенчато или непрерывно
Режимы сканирования: Сканирование по линии и в точке.
Форма, размер и положение Окна Фокусировки плавно меняются.
Динамический фокус вплоть до наклона плоскости на ± 70°, двойной динамический фокус (для объектов, расположенных ребром).
Сдвиг и вращение области сканирования.
Коррекция наклона образца.
3D пучок – поворот оси сканирования на заданный угол вокруг XY оси.
«Живое» стереоскопическое изображение.
Возможны произвольные формы окна сканирования с опциональным модулем DrawBeam.

Вакуумная система

Вакуум в камере образцов:
Режим высокого вакуума: < 9 × 10-3 Па*
Режим переменного вакуума: 3 – 150 Па
Режим низкого вакуума: 3 – 500 Па**
Вакуум в колонне: < 9 × 10-3 Па*
Типичное время откачки после смены образцов: < 3 минут

* давление < 5 × 10-4 Па достижимо, точное измерение давления возможно при заказе опционального вакуумного датчика

** требуется вставить разделительную апертуру

Камера

Внутренний диаметр: 160 мм
Ширина дверцы: 120 мм
Число портов: 10
Подвеска камеры и колонны: Механическая (резино-пружинная)

Столик образцов

Тип: Эуцентрический
Перемещения: В стандартной поставке: моторизовано по 3-м осям:
X = 45 мм – моторизовано*
Y = 45 мм – моторизовано*
Z = 27 мм – ручное
Z’= 6 мм – ручное
Вращение: 360° непрерывно – моторизовано*
Наклон: от –90° до +90° – ручной
Максимальная высота образца: 36 мм

Может быть полезно:

Confotec NR500 — 3D сканирующий лазерный Рамановский микроскоп

Преимущества   Одновременный / многофункциональный анализ: Рамановские измерения люминесцентные […]

Запрос цены Подробнее
TESCAN LYRA 3

LYRA 3 FEG — это удобное сочетание автоэмиссионного электронного микроскопа […]

Запрос цены Подробнее
SPECTRA Full

SPECTRA – это уникальная интеграция атомно-силового микроскопа с конфокальной […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]


Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]


Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы