EXT_EDUCATION - ЭМТИОН
EXT_EDUCATION

NT-MDT

Опция для обучения студентов на АСМ NTEGRA

Описание EXT_EDUCATION

Опция для недорогой и наглядной работы со студентами на АСМ NTEGRA.

 

Позволяет работать с проволочными зондами при выполнении курсовых и лабораторных работ. Реализовывает следующие методы:

-измерение рельефа

-отображение дифференциального контраста

-отображение фазового контраста

-силовая спектроскопия

-динамическая силовая литография

  • Система регистрации и возбуждения колебаний на основе пьезотрубчатого датчика, не требующая лазера
  • Значение пространственного разрешения для измерительной головки с вольфрамовым зондом, по осям X,Y, 100 нм
  • Значение пространственного разрешения для измерительной головки с вольфрамовым датчиком по оси Z составляет 0,1 нм

В комплекте устройство травления игл, а также пять зондовых датчиков силового воздействия – держателей W проволоки.

  • Система регистрации и возбуждения колебаний на основе пьезотрубчатого датчика, не требующая лазера
  • Значение пространственного разрешения для измерительной головки с вольфрамовым зондом, по осям X,Y, 100 нм
  • Значение пространственного разрешения для измерительной головки с вольфрамовым датчиком по оси Z составляет 0,1 нм
Брошюра_Магнитная литография и визуализация.
Загрузить

Может быть полезно:

EXT SNA

Оптическая измерительная головка нового поколения для АСМ серии NTEGRA. […]

Запрос цены Подробнее
EXT Temp

Модуль АСМ измерений с контролем температуры для серии NTEGRA. […]

Запрос цены Подробнее
NTEGRA PRIMA

NTEGRA Prima- это многофункциональный АСМ для выполнения наиболее типичных […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Корреляционная Зондовая и Электронная Микроскопия – КЗЭМ

  Корреляционная микроскопия предоставляет преимущества визуализации одного и того […]


Рамановская спектроскопия

В Рамановоской спектроскопии (Спектроскопии Комбинационного рассеяния) образец облучается монохроматическим […]


Атомно-силовая Акустическая Микроскопия

Основная идея Атомно-силовой Акустической Микроскопии (АСАМ) заключается в возбуждении […]


Посмотреть все методики

Научные результаты на обору­довании

Идентификация драгоценных камней с помощью спектроскопии комбинационного рассеяния света

В настоящее время на ювелирном рынке существует большое разнообразие […]


Управление разделением фаз в тонких пленках диоксида ванадия с помощью структурирования подложек

Сильные электронно-решетчатые взаимодействия в коррелированных электронных системах предоставляют уникальные […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Посмотреть все статьи

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы